La oblea de silicio monocristalino de tipo N de tipo N presenta un diseño cuasi-cuadrado de 156.75 × 156.75 mm con esquinas redondeadas, equilibrando la compatibilidad con diseños de módulos estándar y captura de luz optimizada. Producido utilizando el método CZ y el dopaje de fósforo, ofrece alta pureza de material,<100>orientación y baja densidad de dislocación (menor o igual a 500 cm⁻²). Con una conductividad de tipo N, un amplio rango de resistividad (0.2–12 Ω · cm) y una vida útil de los portadores de alta minorías (mayor o igual a 1000 µs), admite tecnologías de células de alta eficiencia como TOPCON y HJT. La oblea M2 sigue siendo un formato probado y confiable para el rendimiento estable en las aplicaciones fotovoltaicas convencionales.
1. Propiedades del material
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Propiedad |
Especificación |
Método de inspección |
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Método de crecimiento |
Cz |
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Cristalinidad |
Monocristalino |
Técnicas de grabado preferencial(ASTM F47-88) |
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Tipo de conductividad |
De tipo n |
NAPSON EC-80TPN |
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Dopante |
Fósforo |
- |
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Concentración de oxígeno [OI] |
Menor o igual a8E +17 AT/CM3 |
FTIR (ASTM F121-83) |
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Concentración de carbono [CS] |
Menor o igual a5e +16 AT/CM3 |
FTIR (ASTM F123-91) |
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Densidad de boxes de grabado (densidad de dislocación) |
Menor o igual a500 cm-2 |
Técnicas de grabado preferencial(ASTM F47-88) |
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Orientación de la superficie |
<100>± 3 grados |
Método de difracción de rayos X (ASTM F26-1987) |
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Orientación de los lados pseudo cuadros |
<010>,<001>± 3 grados |
Método de difracción de rayos X (ASTM F26-1987) |
2. Propiedades eléctricas
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Propiedad |
Especificación |
Método de inspección |
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Resistividad |
0.2-2.0 Ω.cm 0.5-3.5 Ω.cm
1.0-7.0 Ω.cm
1.5-12 Ω.cm
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Resistividad de 4 sonras
medición
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MCLT (vida útil del portador de minorías) |
Mayor o igual a 1000 µs (resistividad ＞ 1.0 Ω.cm) Mayor o igual a 500 µs (resistividad ＜ 1.0 Ω.cm
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Sinton BCT-400 Transitorio
(con nivel de inyección: 5e14 cm-3)
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3. Geometría
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Propiedad |
Especificación |
Método de inspección |
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Geometría |
cuasi cuadrado
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Calibre vernier
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Diámetro
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210 ± 0.25 mm
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Calibre vernier |
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Plano a plano
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156.75 ± 0.25 mm
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Calibre vernier
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Longitud de la esquina
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8.5 ± 0.5 mm
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Cuadrado de asiento ancho/regla
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Angularidad
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90 grados ± 0.2 grados |
Regla de ángulo
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Forma de esquina
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Forma redonda
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Inspección visual
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Perpendicularit
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Menos de o igual a 0.8 mm
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TTV (variación total de espesor) |
Menor o igual a 27 µm |
sistema de inspección de obleas |
4.Propiedades superficiales
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Propiedad |
Especificación |
Método de inspección |
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Plazo de superficie
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Mancha, aceite, rasguño, grieta, pozo, bulto,
Pinhole y Twin Defect no son
permitido
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Inspección visual
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Chip
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El chip de superficie no está permitido;
Arris: las chips son inconsecutivas:
Menos de 10 en el arris, diA menor o igual a 0.3 mm;
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Gobernante
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Superficie rugosa
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Superficie plana: AR menor o igual a 0.6um;
Superficie cambiada: AR menor o igual a 1.0um
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Medidor de rugosidad de la superficie
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