Optimizado para aplicaciones solares de alta eficiencia, la oblea de silicio monocristalina de tipo N de tipo N presenta un diseño pseudo-cuadrado de 166 × 166 mm con propiedades de material superiores. Fabricado con el método CZ con dopaje de fósforo, ofrece una excelente calidad de cristal con<100>Orientación y baja densidad de defectos (menor o igual a 500 cm⁻²). La oblea ofrece conductividad de tipo N con resistividad de 1.0-7.0 Ω · cm y mayor o igual a 1000 µs de vida útil portadora, lo que lo hace ideal para las tecnologías de células TOPCON y heterounión. Su geometría precisa (φ223 mm de diámetro, menor o igual a TTV de 27 µM) y estándares estrictos de calidad de la superficie aseguran un rendimiento óptimo en los módulos fotovoltaicos. El tamaño M6 proporciona el equilibrio perfecto entre la eficiencia celular y la productividad de la fabricación para las líneas de producción solar modernas.
1. Propiedades del material
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Propiedad |
Especificación |
Método de inspección |
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Método de crecimiento |
Cz |
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Cristalinidad |
Monocristalino |
Técnicas de grabado preferencial(ASTM F47-88) |
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Tipo de conductividad |
De tipo n |
NAPSON EC-80TPN |
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Dopante |
Fósforo |
- |
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Concentración de oxígeno [OI] |
Menor o igual a8E +17 AT/CM3 |
FTIR (ASTM F121-83) |
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Concentración de carbono [CS] |
Menor o igual a5e +16 AT/CM3 |
FTIR (ASTM F123-91) |
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Densidad de boxes de grabado (densidad de dislocación) |
Menor o igual a500 cm-2 |
Técnicas de grabado preferencial(ASTM F47-88) |
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Orientación de la superficie |
<100>± 3 grados |
Método de difracción de rayos X (ASTM F26-1987) |
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Orientación de los lados pseudo cuadros |
<010>,<001>± 3 grados |
Método de difracción de rayos X (ASTM F26-1987) |
2. Propiedades eléctricas
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Propiedad |
Especificación |
Método de inspección |
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Resistividad |
1.0-7.0 Ω.cm
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Sistema de inspección de obleas |
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MCLT (vida útil del portador de minorías) |
Mayor o igual a 1000 µs
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Sinton BCT-400 Transitorio
(con nivel de inyección: 5e14 cm-3)
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3. Geometría
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Propiedad |
Especificación |
Método de inspección |
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Geometría |
pseudo cuadrado |
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Forma de borde de bisel
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redondo | |
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Longitud lateral de la oblea |
166 ± 0.25 mm
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sistema de inspección de obleas |
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Diámetro de la oblea |
φ223 ± 0.25 mm |
sistema de inspección de obleas |
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Ángulo entre lados adyacentes |
90 grados ± 0.2 grados |
sistema de inspección de obleas |
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Espesor |
180﹢ 20/﹣10 µm
175﹢ 20/﹣10 µm
170﹢ 20/﹣10 µm
160﹢ 20/﹣10 µm
150﹢ 20/﹣10 µm
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sistema de inspección de obleas |
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TTV (variación total de espesor) |
Menor o igual a 27 µm |
sistema de inspección de obleas |
4.Propiedades superficiales
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Propiedad |
Especificación |
Método de inspección |
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Método de corte |
DW |
-- |
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Calidad de la superficie |
Como se corta y limpia, no se permiten contaminación visible (aceite o grasa, huellas digitales, manchas de jabón, manchas de suspensión, manchas de epoxi/pegamento) |
sistema de inspección de obleas |
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Vio marcas / pasos |
Menos de o igual a 15 µm |
sistema de inspección de obleas |
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Arco |
Menos de o igual a 40 µm |
sistema de inspección de obleas |
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Urdimbre |
Menos de o igual a 40 µm |
sistema de inspección de obleas |
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Chip |
profundidad menor o igual a 0.3 mm y longitud menor o igual a 0.5 mm Máx 2/pcs; Sin chip en V |
Ojos desnudos o sistema de inspección de obleas |
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Micro grietas / agujeros |
No permitido |
sistema de inspección de obleas |
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