En la industria solar fotovoltaica, la transición de la tecnología de obleas viene un cambio de pseudocuadrado156,75x156,75 mm M2 a tamaños de oblea más grandes en cuadrado completo 158,75x158,75 mm y esto incluye obleas mono-Si tipo p y tipo n.
Las obleas Full Square Mono de última generación han maximizado la exposición a la luz al mismo nivel de obleas múltiples al expandir la medida cuadrada. Las obleas siempre son completamente cuadradas para que se ajusten al módulo fotovoltaico de manera óptima.
1 Propiedades materiales
Propiedad | Especificación | Método de inspección |
Método de crecimiento | CZ | |
Cristalinidad | Monocristalino | Técnicas de grabado preferenciales（ASTM F47-88） |
Tipo de conductividad | Tipo N | Napson EC-80TPN |
Dopante | Fósforo | - |
Concentración de oxígeno [Oi] | ≦8E+17 a / cm3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Concentración de carbono [Cs] | ≦5E+16 a / cm3 | FTIR (ASTM F123-91) |
Densidad del pozo de grabado (densidad de dislocación) | ≦500 cm-3 | Técnicas de grabado preferenciales（ASTM F47-88） |
Orientación de superficie | & lt; 100> ± 3 ° | Método de difracción de rayos X (ASTM F26-1987) |
Orientación de lados pseudocuadrados | & lt; 010> ;,< 001=""> ± 3 ° | Método de difracción de rayos X (ASTM F26-1987) |
2 Propiedades electricas
Propiedad | Especificación | Método de inspección |
Resistividad | 0,3-2,1 Ω.cm 1.0-7.0 Ω.cm | Sistema de inspección de obleas |
MCLT (portador minoritario de por vida) | ≧ 1000 μs (resistividad 0,3-2,1 Ω.cm) | Sinton transitorio |
3 Geometría
Propiedad | Especificación | Método de inspección |
Geometría | Cuadrado completo | |
Longitud del lado de la oblea | 158,75 ± 0,25 milímetros | sistema de inspección de obleas |
Diámetro de la oblea | φ223 ± 0,25 milímetro | sistema de inspección de obleas |
Ángulo entre lados adyacentes | 90° ± 0.2° | sistema de inspección de obleas |
Grosor | 180 ﹢ 20/﹣10 µm; 170﹢20/﹣10 µm | sistema de inspección de obleas |
TTV (variación de espesor total) | ≤ 27 µm | sistema de inspección de obleas |
4 Propiedades de la superficie
Propiedad | Especificación | Método de inspección |
Método de corte | DW | -- |
Calidad de la superficie | como cortado y limpiado, sin contaminación visible (aceite o grasa, huellas dactilares, manchas de jabón, manchas de lechada, manchas de epoxi / pegamento no están permitidas) | sistema de inspección de obleas |
Marcas de sierra / pasos | ≤ 15µm | sistema de inspección de obleas |
Inclinarse | ≤ 40 µm | sistema de inspección de obleas |
Deformación | ≤ 40 µm | sistema de inspección de obleas |
Chip | profundidad ≤0.3 mm y longitud ≤ 0.5 mm Max 2 / pcs; sin V-chip | Sistema de inspección de ojos desnudos o obleas |
Micro grietas / agujeros | No permitido | sistema de inspección de obleas |
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