Actualmente, la energía solar fotovoltaica de silicio utiliza principalmente obleas monocristalinas de tipo P de 156,75 mm x 156,75 mm, pero algunas de ellas están migrando a tamaños de oblea y celda más grandes, como 158,75 mm x 158,75 mm. Algunos de los fabricantes ya han iniciado ese proceso. Una de las razones por las que la oblea cuadrada de 158,75 mm obtiene más enfoque es que las dimensiones del módulo se acercan más allá de las 60 celdas estándar yMódulos de 72 celdas, que proporcionan retroadaptación y retención de equipos de fabricación existentes.
En el futuro para las obleas mono-Si, 158,75 mm cuadrados se convertirán en el diseño más adoptado por la mayoría de los fabricantes de energía solar fotovoltaica. Por supuesto, hay algunos fabricantes que utilizan obleas que son más grandes que esto. LG y Hanwha Q Cells, por ejemplo, utilizan obleas M4 (161,7 mm), mientras que Longi está promoviendo obleas de 166 mm (M6).
1 Propiedades del material
propiedad | especificación | Método de inspección |
Método de crecimiento | Cz | |
cristalinidad | Monocristalino
| Técnicas de grabado preferenciales（ASTM F47-88） |
Tipo de conductividad | Tipo P | Napson EC-80TPN P/N |
Dopante
| Boro, Galio
| - |
Concentración de oxígeno[Oi] | ≦8E+17 a/cm3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Concentración de carbono[Cs] | ≦5E+16 a/cm3 | FTIR (ASTM F123-91) |
Densidad del pozo del grabado (densidad de la dislocación) | ≦500 centímetros-3 | Técnicas de grabado preferenciales（ASTM F47-88） |
Orientación de la superficie | <100>±3° | Método de difracción de rayos X (ASTM F26-1987) |
Orientación de los lados pseudo cuadrados | <010>,<001>±3° | Método de difracción de rayos X (ASTM F26-1987) |
2 Propiedades eléctricas
propiedad | especificación | Método de inspección |
resistividad | 0,5-1,5 Ωcm | Sistema de inspección de oblea |
MCLT (vida del portador de la minoría) | ≧50 μs | Sinton BCT-400 (con nivel de inyección: 1E15 cm-3) |
3 geometría
propiedad | especificación | Método de inspección |
geometría | Cuadrado completo | |
Longitud lateral de la oblea | 158,75±0,25 mm | sistema de inspección de obleas |
Diámetro de la oblea | φ223±0,25 mm | sistema de inspección de obleas |
Ángulo entre lados adyacentes | 90° ± 0.2° | sistema de inspección de obleas |
espesor | 180﹢20/﹣10 μm; 170﹢20/﹣10 μm | sistema de inspección de obleas |
TTV (Variación del espesor total) | ≤27 μm | sistema de inspección de obleas |
4 Propiedades de la superficie
propiedad | especificación | Método de inspección |
Método de corte | Dw | -- |
Calidad de la superficie | como cortado y limpiado, sin contaminación visible, (no se permiten huellas dactilares, huellas dactilares, manchas de jabón, manchas de lodo, manchas de epoxi / pegamento) | sistema de inspección de obleas |
Marcas de sierra / pasos | ≤ 15μm | sistema de inspección de obleas |
arco | ≤ 40 μm | sistema de inspección de obleas |
urdimbre | ≤ 40 μm | sistema de inspección de obleas |
chip | profundidad ≤0,3 mm y longitud ≤ 0,5 mm Máximo 2/pcs; sin V-chip | Ojos desnudos o sistema de inspección de obleas |
Micro grietas / agujeros | No permitido | sistema de inspección de obleas |
Etiqueta: p tipo 158.75mm oblea solar monocristalina, China, proveedores, fabricantes, fábrica, hecho en China
